新如科技深耕半導體與材料科學領域,提供精密塗佈顯影設備、ATE 測試機、精密治具與客製化硬體技術開發,與您一同創造無限價值。
探索服務項目多維度一站式技術支持,滿足研發、工程與量產的嚴苛需求
高精密與高重複精度設計,滿足最敏感的微米級失效分析
利用高頻超聲波精準檢測器件或材料內部的缺陷。對粘結層面的氣孔、裂紋、夾雜和分層極為敏感。廣泛應用於失效分析、可靠性工程、製程控制及研發領域。
同步支援反射式 (C-Scan) 與穿透式 (T-Scan) 掃描,具備表面追蹤 (FSF) 自動跟蹤表面成像技術。
| 掃描速度 | 線性伺服馬達,最高可達 2000 mm/s |
| 掃描重複精度 | XY 軸 ≤ ±0.5 μm |
| 探頭適配範圍 | 1 MHz - 230 MHz (解析度可達 5 μm) |
| 有效掃描範圍 | 400 mm x 400 mm |
| 設備尺寸 | 1150 (長) x 1040 (寬) x 1500 (高) mm |
豐富經驗積累,為全球客戶創造可持續的卓越價值
與各大晶圓廠 (Fab) 深度合作多年,塗佈顯影與清洗製程均已通過一線驗證並取得批量訂單。
核心零部件自主可控,不受外部供應鏈制約,提供量身訂做的專業客製化服務。
備有 Advantest V93K/EXA、Teradyne J750/UltraFlex/Magnum2、V50/S100 等完整 ATE 開發測試環境,可滿足工程開發、小型量產與板卡驗證。
無論是客製化硬體機構設計、設備租賃買賣與維修,還是半導體製程優化,我們將隨時提供最專業的技術解答與支援。